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產(chǎn)品分類(lèi)
產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱(chēng)：同惠儀器半導體C-V特性分析儀

  • 產(chǎn)品型號：TH511
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商：同惠TONGHUI
  • 產(chǎn)品價(jià)格：0
  • 折扣價(jià)格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡(jiǎn)單介紹：
TH510系列半導體C-V特性分析儀是常州同惠電子根據當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。 儀器采用了一體化集成設計，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無(wú)需頻繁切換接線(xiàn)及設置參數，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線(xiàn)快速測試、自動(dòng)化集成。 CV曲線(xiàn)掃描分析能力亦能滿(mǎn)足實(shí)驗室對半導體材料及功率器件的研發(fā)及分析。 儀器設計頻率為1kHz-2MHz，VGS電壓可達±40V，VDS電壓可達±200V/±1500V/±3000V，足以滿(mǎn)足大多數功率器件測試。
詳情介紹：

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功能特點(diǎn)

A.一體化測試，集成度高、體積小、效率高

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一臺儀器內置了LCR數字電橋、VGS電壓源、VDS電壓源、高低壓切換矩陣以及上位機軟件，將復雜的接線(xiàn)、繁瑣的操作集成在支持電容式觸摸的Linux系統內，操作更簡(jiǎn)單。特別適合產(chǎn)線(xiàn)快速化、自動(dòng)化測試。

B.單管器件測試，10.1寸大屏，四種寄生參數同屏顯示，讓細節一覽無(wú)遺

MOSFET或IGBT*重要的四個(gè)寄生參數：Ciss、Coss、Crss、Rg，Cies、Coes、Cres、Rg均可一鍵測試，10.1寸大屏可同時(shí)將測量結果、等效電路圖、分選結果等重要參數同時(shí)顯示，一目了然。

一鍵測試單管器件器件時(shí)，無(wú)需頻繁切換測試腳位、測量參數、測量結果，大大提高了測試效率。

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C.列表測試，多個(gè)、多芯、模組器件測量參數同屏顯示

TH510系列半導體C-V特性分析儀支持*多6個(gè)單管器件、6芯器件或6模組器件測試，所有測量參數通過(guò)列表掃描模式同時(shí)顯示測試結果及判斷結果。

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D.曲線(xiàn)掃描功能（選件）

在MOSFET的參數中，CV特性曲線(xiàn)也是一個(gè)非常重要的指標，如下圖

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TH510系列半導體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線(xiàn)分析，可以以對數、線(xiàn)性?xún)煞N方式實(shí)現曲線(xiàn)掃描，可同時(shí)顯示多條曲線(xiàn)：同一參數、不同Vg的多條曲線(xiàn)；同一Vg、不同參數多條曲線(xiàn)。

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E.**的接觸檢查（Contact）功能，提前排除自動(dòng)化測試隱患

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F.**的快速通斷測試（OP_SH）,排除損壞器件

在半導體器件特性測試時(shí)，由于半器件本身是損壞件，特別是多芯器件其中一個(gè)芯已經(jīng)損壞的情況下，測試雜散電容仍有可能被為合格，而半導體器件的導通特性才是*重要的特性。

因此，對于本身導通特性**的產(chǎn)品進(jìn)行C-V特性測試是完全沒(méi)有必要的，不僅僅浪費了測量時(shí)間，同時(shí)會(huì )由于C-V合格而混雜在良品里，導致成品出貨后被退回帶來(lái)?yè)p失.

TH510系列半導體C-V特性分析儀提供了快速通斷測試（OP_SH）功能,可用于直接判斷器件本身導通性能。

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G.**模組式器件設置，支持定制

針對模組式器件如雙路（Dual）MOSFET、多組式IGBT，有些器件會(huì )有不同類(lèi)型芯片混合式封裝;TH510系列CV特性分析儀針對此情況做了優(yōu)化，常見(jiàn)模組式芯片Demo已內置，特殊芯片支持定制.

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H.簡(jiǎn)單快捷設置

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I.10檔分選及可編程HANDLER接口

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J.支持定制化，智能固件升級方式

同惠儀器對于客戶(hù)而言是開(kāi)放的，儀器所有接口、指令集均為開(kāi)放設計，客戶(hù)可自行編程集成或進(jìn)行功能定制，定制功能若無(wú)硬件更改，可直接通過(guò)固件升級方式更新。

儀器本身功能完善、BUG解決、功能升級等，都可以通過(guò)升級固件(Firmware)來(lái)進(jìn)行更新，而無(wú)需返廠(chǎng)進(jìn)行。

固件升級非常智能，可以通過(guò)系統設置界面或者文件管理界面進(jìn)行，智能搜索儀器內存、外接優(yōu)盤(pán)甚至是局域網(wǎng)內升級包，并自動(dòng)進(jìn)行升級

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K.獨特技術(shù)解決Ciss、Coss、Crss、Rg產(chǎn)線(xiàn)/自動(dòng)化系統高速測試精度

同惠電子在電容測試行業(yè)近30年的經(jīng)驗積累，得以在產(chǎn)線(xiàn)、自動(dòng)化測試等高速高精度測試場(chǎng)合，都能保證電容、電阻等測試精度。

常規產(chǎn)線(xiàn)測試，提供標準0米測試夾具，直插器件可直接插入進(jìn)行測試，Ciss、Coss、Crss、Rg測試精度高。

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針對自動(dòng)化測試，由于自動(dòng)化設備測試工裝通常需要較長(cháng)連接線(xiàn)，大多自動(dòng)化設備生產(chǎn)商在延長(cháng)測試線(xiàn)時(shí)會(huì )帶來(lái)很大的精度偏差，為此，同惠設計了獨特的2米延長(cháng)線(xiàn)并內置了2米校準，保證Ciss、Coss、Crss、Rg測試精度和0米測試夾具一致。

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L.半導體元件寄生電容知識

在高頻電路中，半導體器件的寄生電容往往會(huì )影響半導體的動(dòng)態(tài)特性，所以在設計半導體元件時(shí)需要考慮下列因數

在高頻電路設計中往往需要考慮二極管結電容帶來(lái)的影響；MOS管的寄生電容會(huì )影響管子的動(dòng)作時(shí)間、驅動(dòng)能力和開(kāi)關(guān)損耗等多方面特性；寄生電容的電壓依賴(lài)性在電路設計中也是至關(guān)重要，以MOSFET為例。

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M.標配附件

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應用

■ 半導體元件/功率元件

二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光

電子芯片等寄生電容測試、C-V特性分析

■ 半導體材料

晶圓切割、C-V特性分析

■ 液晶材料

彈性常數分析

■電容元件

電容器C-V特性測試及分析，電容式傳感器測試分析

技術(shù)參數

產(chǎn)品型號


TH511

TH512

TH513

通道數


2（可選配4/6通道）


1

顯示

顯示器


10.1英寸(對角線(xiàn))電容觸摸屏

比例


16:9

分辨率


1280×RGB×800

測量參數


Ciss、Coss、Crss、Rg，四參數任意選擇

測試頻率

范圍


1kHz-2MHz

精度


0.01%

分辨率


10mHz                 1.00000kHz-9.99999kHz

100mHz               10.0000kHz-99.9999kHz

1Hz                      100.000kHz-999.999kHz

10Hz                    1.00000MHz-2.00000MHz

測試電平

電壓范圍


5mVrms-2Vrms

準確度


±（10%×設定值+2mV）

分辨率


1mVrms               5mVrms-1Vrms

10mVrms             1Vrms-2Vrms

VGS電壓

范圍


0 - ±40V

準確度


1%×設定電壓+8mV

分辨率


1mV               0V - ±10V

10mV             ±10V -±40V

VDS電壓

范圍


0 - ±200V


0 - ±1500V

0 - ±3000V

準確度


1%×設定電壓+100mV

輸出阻抗


100Ω，±2%@1kHz

數+*-算


與標稱(chēng)值的**偏差Δ，與標稱(chēng)值的百分比偏差Δ%

校準功能


開(kāi)路OPEN、短路SHORT、負載LOAD

測量平均


1-255次

AD轉換時(shí)間（ms/次）


快速+：2.5ms(＞5kHz) 快速：11ms 中速：90ms 慢速：220ms

*高準確度


0.5%（具體參考說(shuō)明書(shū)）

  Ciss、Coss、Crss


0.00001pF - 9.99999F

Rg


0.001mΩ - 99.9999MΩ

Δ%


±（0.000% - 999.9%）

多功能參數列表掃描

點(diǎn)數


50點(diǎn)，每個(gè)點(diǎn)可設置平均數，每個(gè)點(diǎn)可單獨分選

參數


測試頻率、Vg、Vd、通道

觸發(fā)模式


順序SEQ：當一次觸發(fā)后，在所有掃描點(diǎn)測量，/EOM/INDEX只輸出一次

步進(jìn)STEP：每次觸發(fā)執行一個(gè)掃描點(diǎn)測量，每點(diǎn)均輸出/EOM/INDEX，但列表掃描比較器結果只在*后的/EOM才輸出

圖形掃描

掃描點(diǎn)數


任意點(diǎn)可選，*多1001點(diǎn)

結果顯示


同一參數、不同Vg的多條曲線(xiàn)；同一Vg、不同參數多條曲線(xiàn)

顯示范圍


實(shí)時(shí)自動(dòng)、鎖定

坐標標尺


對數、線(xiàn)性

掃描參數觸發(fā)方式


Vg、Vd

單次

手動(dòng)觸發(fā)一次，從起點(diǎn)到終點(diǎn)一次掃描完成，下個(gè)觸發(fā)信號啟動(dòng)新一次掃描

連續

從起點(diǎn)到終點(diǎn)無(wú)限次循環(huán)掃描

結果保存


圖形、文件


附件
標配
配件名稱(chēng) 型號
測試夾具 TH26063B
測試夾具 TH26063C
TH510夾具控制連接電纜 TH26063D
TH510測試延長(cháng)線(xiàn) TH26063G
選配
配件名稱(chēng) 型號



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